Igła testowa EQUIP-TEST ST500 MI04 L

Igła testowa Equip-Test ST500 MI04 L

Igła testowa z główką MI, raster 1,27mm, długość 43,2mm

Igła testowa ST500 MI04 L przeznaczona jest do precyzyjnych połączeń stykowych przy minimalnym rastrze wynoszącym 1,27 mm. Element wyposażony jest w główkę typu MI o średnicy 0,66 mm, a jego całkowita długość wynosi 43,2 mm. Konstrukcja bazuje na miedzi berylowej z powierzchnią pokrytą warstwą złota, co zapewnia rezystancję styku na poziomie maksymalnie 20 mΩ.

Komponent pracuje w szerokim zakresie temperatur od -40 do 120°C oraz obsługuje prąd znamionowy w przedziale 2–3 A. Ugięcie sprężyny robocze wynosi 4 mm, natomiast ugięcie maksymalne sięga 6,35 mm przy sile nacisku 2 N. Produkt znajduje zastosowanie w wymagających układach pomiarowych oraz testowych wymagających stabilności parametrów elektrycznych.