Igła testowa EQUIP-TEST LF750LA54NX

Igła testowa EQUIP-TEST LF750LA54NX

Igła testowa o skoku roboczym 4mm i rastrze 1,91mm

Igła testowa EQUIP-TEST LF750LA54NX jest przeznaczona do systemów pomiarowych wymagających precyzyjnego styku. Element posiada główkę typu LA o średnicy 0,65mm, a jego konstrukcja zapewnia minimalny raster 1,91mm. Parametry elektryczne komponentu obejmują prąd znamionowy w zakresie 3–4A oraz maksymalną rezystancję styku wynoszącą 20mΩ.

Konstrukcja igły opiera się na stalowym styku z powłoką złoconą, co wpływa na parametry przewodzenia. Mechanizm sprężynowy charakteryzuje się siłą ugięcia 2,8N, przy czym ugięcie robocze wynosi 4mm, a ugięcie maksymalne osiąga 6,35mm. Całkowita długość elementu wynosi 33,1mm.

Komponent jest przystosowany do pracy w warunkach środowiskowych o zakresie temperatur od -40°C do 120°C. Igła została zaprojektowana do standardowych zastosowań w układach testowych, gdzie wymagana jest trwałość mechaniczna i stałość parametrów elektrycznych styku.

Igła testowa EQUIP-TEST LF750LA54NX