Igła testowa EQUIP-TEST ST750 LB53 N

Igła testowa EQUIP-TEST ST750 LB53 N

Igła testowa z główką LB, raster 1,91mm

Igła testowa ST750 LB53 N została zaprojektowana do systemów testowych o minimalnym rastrze wynoszącym 1,91mm. Element wyposażono w główkę typu LB o średnicy końcówki 0,65mm, wykonaną ze stali ze złoconym pokryciem styku. Komponent charakteryzuje się rezystancją styku na poziomie maksymalnie 20mΩ oraz prądem znamionowym w zakresie 3–4A.

Parametry mechaniczne igły obejmują ugięcie robocze sprężyny wynoszące 4mm oraz ugięcie maksymalne 6,35mm, przy sile nacisku 2N. Całkowita długość elementu wynosi 33,1mm, co pozwala na zastosowanie w szerokim zakresie stanowisk pomiarowych. Konstrukcja zapewnia stabilną pracę w temperaturach od -40°C do 120°C.

Igła testowa EQUIP-TEST ST750 LB53 N