Igła testowa EQUIP-TEST ST759 UB03 M

Igła testowa EQUIP-TEST ST759 UB03 M

Igła testowa z główką UB, raster 1,91mm

Igła testowa EQUIP-TEST ST759 UB03 M została zaprojektowana do precyzyjnych pomiarów w układach o minimalnym rastrze 1,91mm. Element wyposażono w końcówkę typu UB o średnicy 0,68mm, wykonaną z miedzi berylowej z pozłacaną powierzchnią styku. Zapewnia to maksymalną rezystancję styku na poziomie 100mΩ oraz przepływ prądu znamionowego do 3A.

Konstrukcja igły przewiduje robocze ugięcie sprężyny wynoszące 2,8mm, przy ugięciu maksymalnym osiągającym 4,2mm. Siła nacisku sprężyny wynosi 1N, co pozwala na stabilne połączenie w punktach pomiarowych. Element przystosowany jest do pracy w szerokim zakresie temperatur od -50°C do 150°C.

Całkowita długość komponentu wynosi 24,2mm. Zastosowane materiały oraz parametry techniczne sprawiają, że igła znajduje zastosowanie w systemach testowania elektroniki.

Igła testowa EQUIP-TEST ST759 UB03 M