Igła testowa EQUIP-TEST TT750CG04N

Igła testowa EQUIP-TEST TT750CG04N

Igła testowa z główką CG, średnica 1,2mm

Igła testowa EQUIP-TEST TT750CG04N przeznaczona jest do precyzyjnych pomiarów w układach elektronicznych, oferując minimalny raster 1,91mm. Element wyposażony jest w końcówkę o kształcie główki CG i średnicy 1,2mm, co umożliwia stabilny kontakt w punktach testowych. Całkowita długość igły wynosi 35,9mm.

Konstrukcja oparta jest na miedzi berylowej, która została poddana procesowi złocenia w celu zapewnienia odpowiednich parametrów połączenia. Komponent charakteryzuje się rezystancją styku na poziomie maksymalnie 20mΩ oraz prądem znamionowym w zakresie 3...4A. Urządzenie może pracować w szerokim przedziale temperatur od -30°C do 80°C.

Mechanizm sprężynowy igły wywiera siłę 1,5N podczas pracy. Ugięcie robocze wynosi 4,3mm, natomiast ugięcie maksymalne osiąga wartość 6,35mm. Parametry te pozwalają na stosowanie elementu w różnorodnych stanowiskach kontrolnych wymagających powtarzalności pomiarowej.

Igła testowa EQUIP-TEST TT750CG04N