Igła testowa INGUN HFS-810 358 080 A 5342 Z M
Igła testowa 3A, 50Ω, 2GHz, wkręcana, złocony CuBe
Igła testowa INGUN HFS-810 358 080 A 5342 Z M przeznaczona jest do zadań pomiarowych o wysokiej częstotliwości, osiągającej 2GHz. Element charakteryzuje się impedancją 50Ω, prądem znamionowym 3A oraz maksymalnym prądem powłoki zewnętrznej wynoszącym 10A. Styki wykonano z miedzi berylowej (CuBe) z powłoką złoconą, co zapewnia właściwości samoczyszczące podczas eksploatacji.
Końcówka typu główka 42 ze stożkiem posiada średnicę 0,8mm. Konstrukcja igły umożliwia montaż wkręcany, przy całkowitej długości podzespołu wynoszącej 42,2mm. Siła ugięcia sprężyny określona jest na 5,3N, przy ugięciu roboczym 1,2mm oraz ugięciu maksymalnym 2,9mm.
Zakres temperatury pracy elementu wynosi od -40°C do 80°C. Dzięki swoim parametrom technicznym i materiałowym, igła znajduje zastosowanie w wymagających środowiskach pomiarowych.
Немає відгуків про цей товар, станьте першим, залиште свій відгук.
- Katalog INGUN igły testowe 25-3 (EN)
- Katalog INGUN przyrządy testowe 14-1 (EN)
- Katalog INGUN części zamienne do przyrządów testowych (EN)
- Katalog INGUN igły testowe RF 6-0 (EN)
- Katalog INGUN baterie (EN)
- Katalog INGUN igły testowe 25-3 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 6-0 (DE)
- Katalog INGUN przyrządy testowe 14-1 (DE)
- Katalog INGUN części zamienne do przyrządów testowych (DE)
- Katalog INGUN igły testowe 2004 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe 2002/2003 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe do testu wiązek kablowych 2003 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 2016 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 11/2011 (DE)
- Katalog INGUN przyrządy testowe (adaptery) 2006 (DE)
- Katalog INGUN systemy testowe 2006 (DE)
- Katalog INGUN systemy testowe 2003 (DE)