Igła testowa INGUN HFS-840 303 150 A 5343 Y2 M

Igła testowa INGUN HFS-840 303 150 A 5343 Y2 M

Igła testowa 50Ω, pasmo 4GHz, siła 5,3N

Igła testowa typu wkręcanego przeznaczona jest do precyzyjnych pomiarów układów elektronicznych. Komponent charakteryzuje się impedancją 50Ω oraz obsługą częstotliwości do 4GHz. Zastosowana końcówka o średnicy 1,5mm posiada kształt odwróconego stożka, co ułatwia kontakt z punktami pomiarowymi.

Konstrukcja styku została wykonana z miedzi berylowej (CuBe) z pozłacaną powłoką, co zapewnia odpowiednie parametry przewodności. Element pracuje w zakresie temperatur od -40°C do 80°C. Igła oferuje siłę ugięcia sprężyny wynoszącą 5,3N, przy ugięciu roboczym 2mm oraz ugięciu maksymalnym 3,7mm.

Urządzenie obsługuje prąd znamionowy 3A, przy czym maksymalny prąd powłoki zewnętrznej wynosi 10A. Produkt o długości całkowitej 44,4mm oraz średnicy kołnierza 5mm posiada wymienny przewodnik zewnętrzny, co umożliwia serwisowanie końcówki w trakcie eksploatacji.

Igła testowa INGUN HFS-840 303 150 A 5343 Y2 M