Wszystko o produkcie
Specyfikacja
Opinie (0)
Igła testowa INGUN HFS-840 303 150 A 5343 Y2 M
Igła testowa 50Ω, pasmo 4GHz, siła 5,3N
Igła testowa typu wkręcanego przeznaczona jest do precyzyjnych pomiarów układów elektronicznych. Komponent charakteryzuje się impedancją 50Ω oraz obsługą częstotliwości do 4GHz. Zastosowana końcówka o średnicy 1,5mm posiada kształt odwróconego stożka, co ułatwia kontakt z punktami pomiarowymi.
Konstrukcja styku została wykonana z miedzi berylowej (CuBe) z pozłacaną powłoką, co zapewnia odpowiednie parametry przewodności. Element pracuje w zakresie temperatur od -40°C do 80°C. Igła oferuje siłę ugięcia sprężyny wynoszącą 5,3N, przy ugięciu roboczym 2mm oraz ugięciu maksymalnym 3,7mm.
Urządzenie obsługuje prąd znamionowy 3A, przy czym maksymalny prąd powłoki zewnętrznej wynosi 10A. Produkt o długości całkowitej 44,4mm oraz średnicy kołnierza 5mm posiada wymienny przewodnik zewnętrzny, co umożliwia serwisowanie końcówki w trakcie eksploatacji.
Brak recenzji tego produktu. Bądź pierwszy, który wystawi swoją recenzję.
- Katalog INGUN igły testowe 25-3 (EN)
- Katalog INGUN przyrządy testowe 14-1 (EN)
- Katalog INGUN części zamienne do przyrządów testowych (EN)
- Katalog INGUN igły testowe RF 6-0 (EN)
- Katalog INGUN baterie (EN)
- Katalog INGUN igły testowe 25-3 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 6-0 (DE)
- Katalog INGUN przyrządy testowe 14-1 (DE)
- Katalog INGUN części zamienne do przyrządów testowych (DE)
- Katalog INGUN igły testowe 2004 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe 2002/2003 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe do testu wiązek kablowych 2003 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 2016 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 11/2011 (DE)
- Katalog INGUN przyrządy testowe (adaptery) 2006 (DE)
- Katalog INGUN systemy testowe 2006 (DE)
- Katalog INGUN systemy testowe 2003 (DE)