Wszystko o produkcie
Specyfikacja
Opinie (0)
Igła testowa INGUN HFS-840 358 080 A 5342 ZM
Igła testowa 3A, 50Ω, 4GHz, główka 42 stożek
Igła testowa HFS-840 358 080 A 5342 ZM przeznaczona jest do precyzyjnych pomiarów elektronicznych, charakteryzując się impedancją 50Ω oraz częstotliwością pracy do 4GHz. Element posiada końcówkę o średnicy 0,8mm w kształcie stożka (główka 42) oraz wykonany jest z miedzi berylowej (CuBe) z pozłacaną powłoką stykową. Konstrukcja igły zapewnia samoczyszczenie, a prąd znamionowy elementu wynosi 3A, przy czym maksymalny prąd dla powłoki zewnętrznej osiąga 10A.
Podzespół o długości 42,2mm montowany jest metodą wkręcaną. Urządzenie pracuje w zakresie temperatur od -40°C do 80°C i charakteryzuje się siłą ugięcia sprężyny wynoszącą 5,3N. Parametry mechaniczne obejmują ugięcie robocze 1,2mm oraz ugięcie maksymalne o wartości 2,9mm.
Brak recenzji tego produktu. Bądź pierwszy, który wystawi swoją recenzję.
- Katalog INGUN igły testowe 25-3 (EN)
- Katalog INGUN przyrządy testowe 14-1 (EN)
- Katalog INGUN części zamienne do przyrządów testowych (EN)
- Katalog INGUN igły testowe RF 6-0 (EN)
- Katalog INGUN baterie (EN)
- Katalog INGUN igły testowe 25-3 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 6-0 (DE)
- Katalog INGUN przyrządy testowe 14-1 (DE)
- Katalog INGUN części zamienne do przyrządów testowych (DE)
- Katalog INGUN igły testowe 2004 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe 2002/2003 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe do testu wiązek kablowych 2003 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 2016 (DE)
- Katalog INGUN igły testowe RF 11/2011 (DE)
- Katalog INGUN przyrządy testowe (adaptery) 2006 (DE)
- Katalog INGUN systemy testowe 2006 (DE)
- Katalog INGUN systemy testowe 2003 (DE)